고정밀 X-선 침강분석법 기반 입도 분석 시스템

Sedigraph III 5120은 입자의 중력 침강 거동을 정량적으로 측정하여 체적기준 입도 분포(Volume-Based Particle Size Distribution)를 도출하는 고정밀 입도 분석 장비입니다. Stokes’ 법칙을 기반으로 하며, X-선 감쇠 측정법(X-ray Attenuation Method)을 통해 불투명 고형 시료 및 미세입자 시스템에서도 뛰어난 분석 정밀도와 재현성을 제공합니다.

⚙️ 주요 기술 사양 및 특징

• 정량적 침강분석(Sedimentation Analysis based on Stokes’ Law)
  입자의 침강 속도를 바탕으로 유체 내에서의 체적 분율 변화를 정량적으로 측정

• 고감도 X-선 광도계(X-ray Densitometry)
  X-선 감쇠 검출기를 통해 입자 농도 변화를 정밀하게 측정
  침강 용액의 불투명도나 광산란 효과로 인한 간섭 없음

• 고분해능 입도분석 (0.1 μm ~ 300 μm)
  마이크로 및 서브마이크로미터 크기 영역의 입자 분포를 고해상도로 재현

• 정밀 제어형 시료 분산 시스템
  초음파, 교반기 등 전처리 조건 적용 가능. 비수계 또는 수계 분산매질 선택 가능

• 자동화된 분석 프로세스 및 시료처리
  조건 설정 후 자동 샘플 로딩, 침강 분석, 데이터 수집 및 보고서 출력까지 전 과정 무인 자동화

• 전용 분석 소프트웨어 통합
  고급 통계 모듈 내장. 사용자 정의 분포 모드 설정, 다중 시료 오버레이 비교, 커스터마이징 가능한 결과 출력

📊 데이터 출력 항목 및 통계 분석

• 입도분포 곡선 (PSD Curve)

  • 빈도 분포 (Frequency Distribution, dV/dlogD)

  • 누적 분포 (Cumulative Distribution)

  • 로그 스케일 분포 지원

• 대표 입경 지표

  • D10, D50 (Median), D90: 누적 체적 기준 입도값

  • Span 지수: 입도 분포 폭 산출 (D90–D10)/D50

  • 모드 값(Mode): 최대 빈도 입경

• 비중/점도 입력 기능

• • 시료 고유의 진밀도와 분석 매질의 점도·온도 값을 입력하여 Stokes 계산의 정밀도 향상

🧾 출력 및 보고서 기능

• 자동 보고서 생성 (Excel, PDF)
  분석 조건, 입도 곡선, 통계 지표, 원시 데이터 포함
  사용자 지정 템플릿 설정 가능

• 다중 시료 비교 분석
  Overlay 기능을 통해 여러 시료 간 입도 특성 차이 시각화 및 정량 비교

• 검량선(Calibration Curve) 자동 적용 및 추적
  내부 표준 시료 기반 정기적 정밀도 보정 수행

📏 측정 범위 및 조건 요약

🧪 적용 분야

• 해양 퇴적물 및 지질 샘플 분석
  환경조사, 해양 지질학, 코어 시료 해석 등에서 미세 입자 분포 특성 분석에 표준적으로 사용
  → 실트(silt)·점토(clay) 비율, 퇴적 환경 해석, 지층 분류 등에 필수적

• 무기 재료 분석
  시멘트, 점토, 광물, 세라믹 원료 등의 분말 특성 평가

• 화학/안료 산업
  TiO₂, 탄소블랙, 안료 등 미세분체의 품질 및 분산성 평가

• 제약/생명과학
  약물 전달용 입자, 미세분산제의 크기 균일성 평가

• 정밀소재/촉매
  나노 촉매, 금속 분말, 배터리 소재 등의 입도 정밀 관리